EN 
FR
JA
ID
ES
AR
KO
RU
DE
CN
Semiconductor/IC
Vum Halbleitermaterial bis Halbleiterkomponent deckt NGI déi ganz Industriekette vum Halbleitertest. Besonnesch, NGI huet déi éischt Formatioun vun national héich-Präzisioun digital Quell Meter fir semiconductor ëmfaassend Testen entwéckelt.
| Applikatiounsszenario | DUT | Testparameter | Test Item | Produkt recommandéieren |
| Semiconductor Assemblée Material Eegeschafte Analyse Energieeffizienz & Beliichtung Passiv Komponent Nanomaterial an Apparat etc. | IC Chip (RF CPU AFE MCU ADC BMIC) Diode MOS Tube Photoelektresche Sensor LED / AMOLED Photovoltaik / Solarzelle etc. | Resistivitéit Analyse Hall Charakteristiken Analyse Wafer Analyse etc. | Iwwerstroum Fäegkeet Test Leckagetest Alterungstest Decompte Test etc. | N2600 N9244 N23010 N23020 etc. |
