all Kategorie
N23010 Serie High Präzisioun Multi Channel Programméierbar DC Energieversuergung

Home>Produkter>Semiconductor Test Serie

N23010 Serie 24 Channels héich Präzisioun programméierbar DC Energieversuergung
N23010 virun Rot
N23010 Configuratioun
N23010 hënneschter Säit
N23010 Serie High Präzisioun Multi Channel Programméierbar DC Energieversuergung
N23010 Serie High Präzisioun Multi Channel Programméierbar DC Energieversuergung
N23010 Serie High Präzisioun Multi Channel Programméierbar DC Energieversuergung
N23010 Serie High Präzisioun Multi Channel Programméierbar DC Energieversuergung

N23010 Serie High Präzisioun Multi Channel Programméierbar DC Energieversuergung


N23010 Serie ass eng héich-Präzisioun, Multi-Kanal programméierbar DC Stroumversuergung speziell fir d'Halbleiterindustrie entwéckelt, déi héich Präzisioun, stabil a reng Kraaft fir Chips liwwere kann, a mat der Ëmwelttestkammer fir eng Rei vun Ëmweltverlässlechkeetstester kooperéieren . Seng Spannungsgenauegkeet bis zu 0.01%, ënnerstëtzt μA Niveau Stroummessung, bis zu 24 Kanäl fir eenzeg Eenheet, ënnerstëtzen lokal / Fernbedienung (LAN / RS232 / CAN) Kontroll fir d'Bedierfnesser vum Chipbatch automateschen Test ze treffen.

Deelen op:
haaptsächlech Karakteristiken

● Spannung Präzisioun 0.6mV

● Laangfristeg Stabilitéit 80ppm/1000h

● Bis zu 24 Kanäl fir eenzel Eenheet

● Spannungsrippelgeräischer ≤2mVrms

●Standard 19-Zoll 3U Chassis

●Entwéckelt fir d'Halbleiterindustrie

Uwendungsfelder

semiconductor / IC Chip aktuell Leckage Testen

Funktiounen & Virdeeler

Genauegkeet a Stabilitéit garantéieren Testverlässegkeet

Zouverlässegkeet Test erfuerdert normalerweis verschidde Chips fir eng laang Zäit ënner Stroumversuergung ze lafen. Huelt HTOL als Beispill, d'Zuel vun de Proben ass op d'mannst 231 Stécker an d'Testzäit ass bis zu 1000 Stonnen. N23010 Spannung Präzisioun ass 0.6mV, laangfristeg Stabilitéit 80ppm / 1000h, Spannung ripple Kaméidi ≤2mVrms kann effektiv d'Zouverlässegkeet vun de Benotzer Test Prozess all Ronn Schutz garantéieren, d'Sécherheet vun Instrumenter a Produiten ënner Test garantéieren.

Genauegkeet a Stabilitéit Test

Ultra-héich Integratioun, spuert Benotzerinvestitioun

Am Prozess vun Chip R&D, Flowheet a Masseproduktioun. Normalerweis ass et néideg Zouverlässegkeet Test op Multiple Gruppe vu Echantillon auszeféieren. Zousätzlech ass de Leckstroum vum Chip oder Gelenkplat och e wichtege Testindex. Den traditionelle Schema adoptéiert normalerweis multiple linear Kraaftquellen mat Dateproben, wat schwéier ass ze verbannen an Testraum besetzt. Den N23010 integréiert bis zu 24 Kraaftkanäl an engem 19-Zoll 3U Chassis fir μA-Niveau Stroummessung z'ënnerstëtzen, eng héich integréiert Léisung fir grouss Skala Chiptestung ubitt.

Séier dynamesch Äntwert

N23010 gëtt séier dynamesch Äntwertfäegkeet geliwwert, ënner der voller Spannungsausgang, d'Laascht ännert sech vun 10% op 90%, Spannungsrecuperatioun op déi ursprénglech Spannungsreduktioun bannent 50mV Zäit ass manner wéi 200μs, et kann suergen datt d'Spannung oder Stroumwelleform bannent héich Geschwindegkeet a keen Iwwerimpuls, an et kann eng stabil Energieversuergung fir den Chip ënner Test ubidden.

Sequenz Redaktioun

N23010 ënnerstëtzt Sequenz Redaktioun Funktioun. D'Benotzer kënnen d'Ausgangsspannung, d'Ausgangsstroum an d'Single Step Lafzäit setzen. 100 Gruppe vu Spannungs- a Stroumsequenzen kënnen lokal personaliséiert ginn.

Sequenz Redaktioun

Verschidde Kommunikatioun Interface, treffen d'Ufuerderunge vum automateschen Test

Ënnerstëtzt RS232, LAN, CAN Hafen, praktesch fir Benotzer fir automatesch Testsystem ze bauen.

Datebank
Ëmfro

Hot Kategorien